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關(guān)鍵詞：樣品制備

概述：為了揭示樣品的真實(shí)微觀結(jié)構(gòu)，通常必須經(jīng)過費(fèi)時(shí)費(fèi)力的表面處理步驟。通常樣品應(yīng)嵌入、研磨并仔細(xì)拋光。研磨和拋光程序會(huì)在樣品表面形成劃痕和塑性變形層（高達(dá)20µm）,這可能導(dǎo)致對(duì)微觀結(jié)構(gòu)的錯(cuò)誤解釋。在拋光狀態(tài)下，可以在光學(xué)顯微鏡或掃描電子顯微鏡（SEM）中觀察到材料的微觀結(jié)構(gòu)，其成分在反射率或硬度上有很大差異……